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X-RAY無損檢測成像系統(tǒng)-平板探測器,安竹光

2024-11-25 03:38:27      點擊:587

價 格:69000

X-RAY無損檢測成像系統(tǒng)-平板探測器 安竹光

高性能的安竹光動態(tài)平板探測器,圖像好、無損曝光時間短、檢測成像速度快和讀出速度高等特點,成像可以實現(xiàn)1x1原圖30fps幀速率,系統(tǒng)

2x2 binning60fps幀速率,平板同時提供適用于X射線實時成像應用。探測

技術(shù)參數(shù)

規(guī)格

探測器類別

非晶硅

閃爍體

CsI GOS

圖像尺寸(mm)

160×130

像素矩陣

1274×1024

像素間距(um)

125

A/D轉(zhuǎn)換(bits)

16

靈敏度(LSB/nGy,安竹光 RQA5)

1.4

線性劑量(uGy, RQA5).

40

調(diào)制傳遞函數(shù)@ 0.5 LP/mm

0.60

調(diào)制傳遞函數(shù)@ 1.0 LP/mm

0.36

調(diào)制傳遞函數(shù)@ 2.0 LP/mm

0.16

調(diào)制傳遞函數(shù)@ 3.0 LP/mm

0.08

殘影(%, 300uGy, 60s)

<0.5

量子探測效率@ 0.0 LP/mm (2.5uGy)

0.73

量子探測效率@ 1.0 LP/mm (2.5uGy)

0.55

量子探測效率@ 2.0 LP/mm (2.5uGy)

0.45

量子探測效率@ 3.0 LP/mm (2.5uGy)

0.29

空間分辨率(LP/mm)

4.0

幀速率(fps)

15.

X-射線工作范圍(kV)

40/-/150

傳輸方式

千兆網(wǎng)線

功率(W)

12

電源(V)

DC24

交流電源頻率(Hz)

50/-/60

適配器輸出電壓(V)

24 DC

探測器尺寸(mm)

170×195×16mm

探測器重量(kg,不含線纜)

1.0±0.1

探測器外殼材料

碳板,鋁合金

存儲溫度(oC)

-20/-/55

工作溫度(oC)

5/-/35

存儲和運輸濕度(%RH)

10/-/75

工作濕度(%RH)

10/-/75

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