X-RAY無損檢測成像系統(tǒng)-平板探測器,安竹光
價 格:69000
X-RAY無損檢測成像系統(tǒng)-平板探測器 安竹光
高性能的安竹光動態(tài)平板探測器,圖像好、無損曝光時間短、檢測成像速度快和讀出速度高等特點,成像可以實現(xiàn)1x1原圖30fps幀速率,系統(tǒng)
2x2 binning60fps幀速率,平板同時提供適用于X射線實時成像應用。探測
技術(shù)參數(shù)
規(guī)格
探測器類別
非晶硅
閃爍體
CsI GOS
圖像尺寸(mm)
160×130
像素矩陣
1274×1024
像素間距(um)
125
A/D轉(zhuǎn)換(bits)
16
靈敏度(LSB/nGy,安竹光 RQA5)
1.4
線性劑量(uGy, RQA5).
40
調(diào)制傳遞函數(shù)@ 0.5 LP/mm
0.60
調(diào)制傳遞函數(shù)@ 1.0 LP/mm
0.36
調(diào)制傳遞函數(shù)@ 2.0 LP/mm
0.16
調(diào)制傳遞函數(shù)@ 3.0 LP/mm
0.08
殘影(%, 300uGy, 60s)
<0.5
量子探測效率@ 0.0 LP/mm (2.5uGy)
0.73
量子探測效率@ 1.0 LP/mm (2.5uGy)
0.55
量子探測效率@ 2.0 LP/mm (2.5uGy)
0.45
量子探測效率@ 3.0 LP/mm (2.5uGy)
0.29
空間分辨率(LP/mm)
4.0
幀速率(fps)
15.
X-射線工作范圍(kV)
40/-/150
傳輸方式
千兆網(wǎng)線
功率(W)
12
電源(V)
DC24
交流電源頻率(Hz)
50/-/60
適配器輸出電壓(V)
24 DC
探測器尺寸(mm)
170×195×16mm
探測器重量(kg,不含線纜)
1.0±0.1
探測器外殼材料
碳板,鋁合金
存儲溫度(oC)
-20/-/55
工作溫度(oC)
5/-/35
存儲和運輸濕度(%RH)
10/-/75
工作濕度(%RH)
10/-/75